测量分析系统

CL-CM40BD自动清洁度颗粒污染分析设备是采用光学显微镜测定颗粒清洁度、颗粒污染度的专业仪器。高精度电动平台，自动化分析软件，高清图像扫描相机，具有自动化高、工作流程化设计模式，操作简便，采集图像快速高效，无缝拼接浏览，智能识别统计，按照选择标准生成结果及报告。针对在制造和装配过程中的颗粒污染物残留，检查电路板电子元件、检测航空航天部件、汽车零部件、食品加工设备和环境中的微生物和残留物。也适用于油品清洁度检测，润滑油清洁度颗粒检测，乳化液清洁度检测，防冻液清洁度检测颗粒检测。

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• 光学元件表面的三维面型测量、面型逆向和面型轮廓精度质量评价
• 自由曲面反射镜、曲面盖板玻璃、玻璃面板、透镜、精密磨具、晶圆硅片等
• HUD、AR、精密光学及3D曲面玻璃等领域的生产企业或研发机构

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• 晶圆全场三维翘曲及纳米轮廓测量
• 晶圆薄膜应力测量
• 晶圆宏观缺陷及薄膜均匀性成像

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